1 Mga parametro sa performance pagkahuman sa coating
Sa miaging artikulo, gipaila namo ang mga gimbuhaton, mga prinsipyo, software sa pagdesinyo ug kasagarang mga teknik sa coating sa optical thin films. Niini nga artikulo, gipaila namon ang pagsulay sa mga parameter sa post-coating. Ang mga parameter sa performance sa nawong sa component human sa coating naglakip sa Transmittance (Transmittance), Reflectance (R), Absorptance (A), ug uban pa. Dugang pa, ang pagsuyup (Transmittance) ug uban pa. Ang pagkatibulaag nga kinaiya S (Scatter) sa ibabaw sa pelikula kinahanglan usab nga sulayan ug analisahon.
Ang transmittance T mao ang ratio sa kusog nga kusog sa kahayag nga moagi sa pelikula ngadto sa kusog nga kahayag sa insidente. Ang reflectance R mao ang ratio sa intensity energy nga gipakita sa nawong sa coating ngadto sa incident energy. Ang pagsuyup A mao ang ratio sa enerhiya sa kahayag nga masuhop sa layer sa pelikula ngadto sa enerhiya sa kahayag sa insidente. Alang niining tulo ka mga parameter, ang mosunod nga mga relasyon anaa:
T + R + A = 1
Sa ato pa, ang sumada sa transmittance, reflectivity ug pagsuyup sa layer sa pelikula mao ang kanunay nga 1. Kini nagpasabot nga human ang kahayag nga sinag nga moagi sa lamad, ang bahin niini moagi, ang bahin niini makita, ug ang uban. masuhop sa lamad.
Saoptical componentAng mga drowing, ang transmittance o reflectivity sa nawong sa pelikula kasagaran gikinahanglan, ug ang spectral range ug incidence Angle ubos sa application state kinahanglan nga tin-aw nga ipasabut. Kung gikinahanglan usab ang polarization, ang sakup sa mga estado sa polarization kinahanglan nga tin-aw nga gihubit. Ingon usa ka pananglitan, ang mga kinahanglanon sa coating sa numero sa ubos mao nga sa 770nm, ang reflectivity kinahanglan nga dili moubos sa 88% sa 45 degree nga insidente, ug sa 550nm, ang transmittance kinahanglan nga dili moubos sa 70% sa 45 degree nga insidente.
Dugang pa sa ibabaw nga optical properties, ang mekanikal ug kemikal nga mga kabtangan sa optical film layer kinahanglan usab nga tagdon, lakip na ang wear resistance, kalig-on, solubility sa film layer. Dugang pa, ang kalidad sa optical surface human sa coating kinahanglan usab nga tagdon, lakip ang mga kinahanglanon alang sa pitting, scratches, hugaw, mantsa, ug uban pa.
2 Prinsipyo sa spectrophotometer
Sa kini nga papel, nagpunting kami sa mga optical nga kabtangan sa mga pamaagi sa pagsulay sa pelikula aron ipaila, sa praktis, ang panguna nga Spectrophotometer (Spectrophotometer) ug Ellipsometer (Ellipsometer) aron sulayan ang mga parameter sa pelikula, ang spectrophotometer mahimong masulayan ang transmittance, reflectivity ug pagsuyup nga mga kinaiya sa optical mga produkto. Ang ellipsometer makasukod sa gibag-on ug polarization nga mga kinaiya sa layer sa pelikula, ug ang prinsipyo sa duha parehas.
Ang istruktura sa ingon nga aparato mahimong bahinon sa duha ka bahin sa channel sa beam generation ug ang beam receiving channel, kung kinahanglan sulayan ang transmittance sa component, ang component ibutang sa tunga sa duha ka channel, aron ang beam moagi sa sample, kung ang reflectivity sa component kinahanglan nga sulayan, ang component ibutang sa samang kilid sa duha ka mga channel, aron ang beam makita sa sample. Ingon usa ka pananglitan, ang prinsipyo sa usa ka spectrophotometer aron masukod ang pagpasa sa usa ka sample gipakita sa mosunod nga numero:
Sa hulagway sa ibabaw, ang wala nga tumoy mao ang beam generation channel, gamit ang usa ka halapad nga spectrum nga tinubdan sa kahayag aron mopagawas sa kahayag, ug unya pinaagi sa pagbahin sa grating ug pagpili sa slit, output ang usa ka piho nga wavelength sa kahayag, ang beam moagi. ang collimator 1, mahimong collimated beam, ug unya moagi sa polarizer nga makapatuyok sa Anggulo, mahimong polarized nga kahayag, ug ang polarized nga kahayag gibahin ngadto sa 2 beam sa spectroscope human matigom ang collimator 2. Ang usa ka light beam makita sa reference detector, diin ang nakolekta nga light beam gigamit ingon nga usa ka pakisayran aron matul-id ang pag-anod sa enerhiya tungod sa pag-usab-usab sa tinubdan sa kahayag, ug laing light beam nga moagi sa sample, giusab sa collimator 3 ug collimator. 4, ug mosulod sa detector sa halayong tuo nga tumoy sa pagsulay. Sa aktuwal nga pagsulay, duha ka mga kantidad sa enerhiya ang makuha pinaagi sa pagbutang ug pagkuha sa nasulayan nga sample, ug ang pagpasa sa sample makuha pinaagi sa pagtandi sa enerhiya.
Ang prinsipyo sa ellipsometer susama sa prinsipyo sa ibabaw nga spectrophotometer, gawas nga ang usa ka rotating 1/4 wave plate gidugang isip usa ka elemento sa kompensasyon sa beam sending channel ug ang receiving channel, ug ang polarizer gidugang usab sa receiving channel. , aron ang polarization nga mga kinaiya sa sample mahimong masusi nga mas flexible. Sa pipila ka mga kaso, ang ellipsometer direkta usab nga mogamit sa usa ka halapad nga spectrum nga gigikanan sa suga, ug magsagop sa usa ka slit ug splitter spectrometer sa pagdawat nga katapusan, inubanan sa usa ka linear array detector, aron makab-ot ang pagsulay sa pasundayag sa sangkap.
3. Pagsulay sa transmittance
Sa pagsulay sa transmittance, aron malikayan ang pagpamalandong sa detector nga nakadawat sa light beam, ang integrating sphere kanunay nga gigamit ingon nga tigdawat, ang prinsipyo gipakita ingon sa mosunod:
Ingon sa makita gikan sa ibabaw nga numero, ang integrating sphere mao ang usa ka lungag sphere nga adunay sapaw sa puti nga nagkatibulaag pagpamalandong coating nga materyal sa sulod nga kuta, ug adunay usa ka bintana buslot sa bola nga bungbong, nga gigamit ingon nga ang kahayag buslot sa insidente kahayag. ug ang receiving hole sa light detector. Niining paagiha, ang kahayag nga mosulod sa integrating sphere makita sa makadaghang higayon pinaagi sa sulod nga patong sa bungbong, nga nagporma og uniporme nga kahayag sa sulod nga bungbong, ug nadawat sa detector.
Ingon usa ka pananglitan, ang istruktura sa usa ka aparato nga gigamit sa pagsulay sa pagpasa sa usa ka optical plate gipakita sa ubos
Sa hulagway sa ibabaw, ang nasulayan nga sample gibutang sa usa ka adjustment table nga mahimong ibalhin sa x ug y nga direksyon. Ang transmittance sa sample mahimong masulayan sa bisan unsang posisyon pinaagi sa pagkontrol sa kompyuter sa lamesa sa pag-adjust. Ang pag-apod-apod sa transmittance sa tibuuk nga patag nga baso mahimo usab nga makuha pinaagi sa pag-scan sa pagsulay, ug ang resolusyon sa pagsulay nagdepende sa gidak-on sa lugar sa sagbayan.
4. Pagsulay sa pagpamalandong
Alang sa pagsukod sa optical film reflectivity, kasagaran adunay duha ka mga paagi, ang usa mao ang relatibong pagsukod ug ang lain mao ang hingpit nga pagsukod. Ang relatibong pamaagi sa pagsukod nanginahanglan usa ka reflector nga adunay nahibal-an nga reflectance aron magamit ingon usa ka pakisayran alang sa pagsulay sa pagtandi. Sa praktis, ang reflectance sa reference mirror kinahanglan nga ma-calibrate kanunay sa pagkatigulang o kontaminasyon sa layer sa pelikula. Busa, kini nga pamaagi adunay potensyal nga mga sayup sa pagsukod. Ang pamaagi sa hingpit nga pagsukod sa reflectivity nanginahanglan sa pag-calibrate sa reflectivity sa test device nga wala ibutang ang sample. Sa hulagway sa ubos, ang istruktura sa classic VW device gihatag aron makab-ot ang hingpit nga pagsukod sa reflectivity sa sample:
Ang wala nga numero sa ibabaw nga numero nagpakita sa usa ka V-shaped nga istruktura nga naglangkob sa tulo ka mga salamin, M1, M2 ug M3. Una, ang kantidad sa light intensity sa kini nga mode gisulayan ug natala ingon P1. Unya, sa husto nga numero, ang sample nga gipailalom sa pagsulay gibutang, ug ang salamin sa M2 gipatuyok sa taas nga posisyon aron maporma ang usa ka istruktura nga W-shaped. Ang hingpit nga pagpabanaag sa gisukod nga sample mahimong makuha. Ang kini nga aparato mahimo usab nga mapaayo, pananglitan, ang sample nga gipailalom sa pagsulay nasangkapan usab sa usa ka independente nga rotating table, aron ang sample sa ilawom sa pagsulay mahimong i-rotate sa bisan unsang Anggulo, pinaagi sa pag-rotate sa salamin sa M2 sa katugbang nga posisyon sa pagpamalandong, aron makab-ot ang beam output, aron ang reflectivity sa sample mahimong masulayan sa daghang mga anggulo.
Isip usa ka pananglitan, ang istruktura sa usa ka aparato nga gigamit sa pagsulay sa pagpabanaag sa usa ka optical plate gipakita sa ubos:
Sa numero sa ibabaw, ang nasulayan nga sample gibutang sa x/y translation adjustment table, ug ang reflectivity sa sample mahimong masulayan sa bisan unsang posisyon pinaagi sa computer control sa adjustment table. Pinaagi sa scanning test, ang reflectance distribution map sa tibuok flat glass mahimo usab nga makuha.
Kontaka:
Email:jasmine@pliroptics.com ;
Telepono/Whatsapp/Wechat:86 19013265659
web: www.pliroptics.com
Idugang: Building 1, No.1558, intelligence road, qingbaijiang, chengdu, sichuan, china
Oras sa pag-post: Abr-23-2024
