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Silicio (Si)
Lentes plano-convexas

Las lentes planoconvexas (PCX) tienen una distancia focal positiva y se pueden usar para enfocar un haz colimado en el punto focal posterior, para colimar la luz de una fuente puntual o reducir el ángulo divergente de una fuente divergente. Para minimizar la introducción de aberración esférica, una fuente de luz colimada debe incidir sobre la superficie curva de la lente cuando se utiliza un PCX para enfocar una fuente de luz colimada; De manera similar, los rayos de luz divergentes deben incidir sobre la superficie plana de la lente PCX al colimar una fuente puntual de luz. Estas lentes se utilizan en aplicaciones conjugadas infinitas y finitas.

Al decidir entre una lente planoconvexa y una lente biconvexa, las cuales hacen que la luz incidente colimada converja, generalmente es más adecuado elegir una lente planoconvexa si el aumento absoluto deseado es menor que 0,2 o mayor que 5. Entre estos dos valores, generalmente se prefieren las lentes biconvexas.

El silicio ofrece alta conductividad térmica y baja densidad. Sin embargo, tiene una fuerte banda de absorción de 9 micrones, por lo que no es adecuado para su uso con aplicaciones de transmisión láser de CO2. Paralight Optics ofrece lentes plano-convexas de silicio (Si) disponibles con un revestimiento AR de banda ancha optimizado para el rango espectral de 3 µm a 5 µm depositado en ambas superficies. Este recubrimiento reduce en gran medida la reflectancia de la superficie del sustrato, lo que produce una alta transmisión y una absorción mínima en toda la gama de recubrimiento AR. Consulte los gráficos para sus referencias.

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Características:

Material:

Silicio (Si)

Sustrato:

Baja densidad y alta conductividad térmica

Opciones de recubrimiento:

Sin recubrimiento o con recubrimientos antirreflectantes y DLC para el rango de 3 a 5 μm

Distancias focales:

Disponible de 15 a 1000 mm

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Especificaciones comunes:

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Dibujo de referencia para

Lente planoconvexa (PCX)

Diámetro: Diámetro
f: distancia focal
ff: Longitud focal frontal
fb: Longitud focal trasera
R: Radio
tc: Grosor central
te: Grosor del borde
H”: Plano principal posterior

Nota: La distancia focal se determina desde el plano principal posterior, que no necesariamente coincide con el grosor del borde.

Parámetros

Rangos y tolerancias

  • Material de sustrato

    Silicio (Si)

  • Tipo

    Lente Plano-Concex (PCX)

  • Índice de refracción

    3,422 a 4,58 µm

  • Número Abbe (Vd)

    No definido

  • Coeficiente de expansión térmica (CTE)

    2,6 x 10-6/ a 20 ℃

  • Tolerancia del diámetro

    Precisión: +0,00/-0,10 mm | Alta precisión: +0,00/-0,02 mm

  • Tolerancia de espesor

    Precisión: +/-0,10 mm | Alta precisión: -0,02 mm

  • Tolerancia de distancia focal

    +/- 1%

  • Calidad de la superficie (raspar-excavar)

    Precisión: 60-40 | Alta precisión: 40-20

  • Planitud de la superficie (lado plano)

    λ/4

  • Potencia de superficie esférica (lado convexo)

    3λ/4

  • Irregularidad de la superficie (de pico a valle)

    λ/4

  • Centrado

    Precisión:<3 minutos de arco | Alta precisión: <30 segundos de arco

  • Apertura clara

    90% del diámetro

  • Gama de recubrimiento AR

    3 - 5 µm

  • Transmisión sobre el rango de recubrimiento (@ 0° AOI)

    Tavg > 98%

  • Reflectancia sobre el rango de recubrimiento (@ 0° AOI)

    ravg< 1,25%

  • Diseño de longitud de onda

    4 µm

  • Umbral de daño por láser

    0,25 J/cm2(6 ns, 30 kHz, @3,3 μm)

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Graficos

♦ Curva de transmisión del sustrato de Si sin recubrimiento: alta transmisión de 1,2 a 8 μm
♦ Curva de transmisión del sustrato de Si recubierto con AR: Tavg > 98 % en el rango de 3 a 5 μm
♦ Curva de transmisión del sustrato de Si recubierto con DLC + AR: Tavg > 90 % en el rango de 3 a 5 μm

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Curva de transmisión del sustrato de silicio recubierto de AR (3 - 5 μm)

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Curva de transmisión de sustrato de silicio recubierto de DLC + AR (3 - 5 μm)