ಫಿಲ್ಮ್ ಪ್ಯಾರಾಮೀಟರ್ ಪರೀಕ್ಷೆ - ಪ್ರಸರಣ ಮತ್ತು ಪ್ರತಿಫಲನ

ಮೇಲಿನ ಆಪ್ಟಿಕಲ್ ಗುಣಲಕ್ಷಣಗಳ ಜೊತೆಗೆ, ಆಪ್ಟಿಕಲ್ ಫಿಲ್ಮ್ ಪದರದ ಯಾಂತ್ರಿಕ ಮತ್ತು ರಾಸಾಯನಿಕ ಗುಣಲಕ್ಷಣಗಳನ್ನು ಸಹ ಪರಿಗಣಿಸಬೇಕಾಗಿದೆ, ಇದರಲ್ಲಿ ಫಿಲ್ಮ್ ಪದರದ ಉಡುಗೆ ಪ್ರತಿರೋಧ, ದೃಢತೆ, ಕರಗುವಿಕೆ ಸೇರಿದಂತೆ. ಹೆಚ್ಚುವರಿಯಾಗಿ, ಲೇಪನದ ನಂತರ ಆಪ್ಟಿಕಲ್ ಮೇಲ್ಮೈಯ ಗುಣಮಟ್ಟವನ್ನು ಸಹ ಪರಿಗಣಿಸಬೇಕಾಗಿದೆ, ಇದರಲ್ಲಿ ಪಿಟ್ಟಿಂಗ್, ಗೀರುಗಳು, ಕೊಳಕು, ಕಲೆಗಳು ಇತ್ಯಾದಿಗಳ ಅವಶ್ಯಕತೆಗಳು ಸೇರಿವೆ.
2 ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೋಫೋಟೋಮೀಟರ್‌ನ ತತ್ವ

ಈ ಲೇಖನದಲ್ಲಿ, ಫಿಲ್ಮ್ ಪ್ಯಾರಾಮೀಟರ್‌ಗಳನ್ನು ಪರೀಕ್ಷಿಸಲು ಮುಖ್ಯ ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೋಫೋಟೋಮೀಟರ್ (ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೋಫೋಟೋಮೀಟರ್) ಮತ್ತು ಎಲಿಪ್ಸೋಮೀಟರ್ (ಎಲಿಪ್ಸೋಮೀಟರ್) ಅನ್ನು ಪರಿಚಯಿಸಲು ಫಿಲ್ಮ್ ಪರೀಕ್ಷಾ ವಿಧಾನಗಳ ಆಪ್ಟಿಕಲ್ ಗುಣಲಕ್ಷಣಗಳ ಮೇಲೆ ನಾವು ಗಮನ ಹರಿಸುತ್ತೇವೆ, ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೋಫೋಟೋಮೀಟರ್ ಆಪ್ಟಿಕಲ್‌ನ ಪ್ರಸರಣ, ಪ್ರತಿಫಲನ ಮತ್ತು ಹೀರಿಕೊಳ್ಳುವ ಗುಣಲಕ್ಷಣಗಳನ್ನು ಪರೀಕ್ಷಿಸಬಹುದು. ಉತ್ಪನ್ನಗಳು. ಎಲಿಪ್ಸೋಮೀಟರ್ ಫಿಲ್ಮ್ ಪದರದ ದಪ್ಪ ಮತ್ತು ಧ್ರುವೀಕರಣದ ಗುಣಲಕ್ಷಣಗಳನ್ನು ಅಳೆಯಬಹುದು ಮತ್ತು ಎರಡರ ತತ್ವವು ಹೋಲುತ್ತದೆ.
ಅಂತಹ ಸಾಧನದ ರಚನೆಯನ್ನು ಕಿರಣದ ಉತ್ಪಾದನೆಯ ಚಾನಲ್ ಮತ್ತು ಕಿರಣವನ್ನು ಸ್ವೀಕರಿಸುವ ಚಾನಲ್ನ ಎರಡು ಭಾಗಗಳಾಗಿ ವಿಂಗಡಿಸಬಹುದು, ಘಟಕದ ಪ್ರಸರಣವನ್ನು ಪರೀಕ್ಷಿಸಬೇಕಾದಾಗ, ಘಟಕವನ್ನು ಎರಡು ಚಾನಲ್ಗಳ ಮಧ್ಯದಲ್ಲಿ ಇರಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ, ಇದರಿಂದಾಗಿ ಕಿರಣ ಮಾದರಿಯ ಮೂಲಕ ಹಾದುಹೋಗುತ್ತದೆ, ಘಟಕದ ಪ್ರತಿಫಲನವನ್ನು ಪರೀಕ್ಷಿಸಬೇಕಾದಾಗ, ಘಟಕವನ್ನು ಎರಡು ಚಾನಲ್‌ಗಳ ಒಂದೇ ಬದಿಯಲ್ಲಿ ಇರಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ, ಇದರಿಂದಾಗಿ ಕಿರಣವು ಮಾದರಿಯಿಂದ ಪ್ರತಿಫಲಿಸುತ್ತದೆ. ಉದಾಹರಣೆಯಾಗಿ, ಮಾದರಿಯ ಪ್ರಸರಣವನ್ನು ಅಳೆಯಲು ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೋಫೋಟೋಮೀಟರ್‌ನ ತತ್ವವನ್ನು ಈ ಕೆಳಗಿನ ಚಿತ್ರದಲ್ಲಿ ತೋರಿಸಲಾಗಿದೆ:

ಮೇಲಿನ ಚಿತ್ರದಲ್ಲಿ, ಎಡ ತುದಿಯು ಕಿರಣದ ಉತ್ಪಾದನೆಯ ಚಾನಲ್ ಆಗಿದೆ, ಬೆಳಕನ್ನು ಹೊರಸೂಸಲು ವಿಶಾಲವಾದ ವರ್ಣಪಟಲದ ಬೆಳಕಿನ ಮೂಲವನ್ನು ಬಳಸುತ್ತದೆ, ಮತ್ತು ನಂತರ ಗ್ರ್ಯಾಟಿಂಗ್ನ ವಿಭಜನೆ ಮತ್ತು ಸ್ಲಿಟ್ನ ಆಯ್ಕೆಯ ಮೂಲಕ, ಬೆಳಕಿನ ನಿರ್ದಿಷ್ಟ ತರಂಗಾಂತರವನ್ನು ಔಟ್ಪುಟ್ ಮಾಡುತ್ತದೆ, ಕಿರಣವು ಹಾದುಹೋಗುತ್ತದೆ. ಕೊಲಿಮೇಟರ್ 1, ಕೊಲಿಮೇಟೆಡ್ ಕಿರಣವಾಗುತ್ತದೆ, ಮತ್ತು ನಂತರ ಕೋನವನ್ನು ತಿರುಗಿಸಬಲ್ಲ ಧ್ರುವೀಕರಣದ ಮೂಲಕ ಹಾದುಹೋಗುತ್ತದೆ, ಧ್ರುವೀಕೃತ ಬೆಳಕಾಗುತ್ತದೆ ಮತ್ತು ಕೊಲಿಮೇಟರ್ 2 ಅನ್ನು ಒಟ್ಟುಗೂಡಿಸಿದ ನಂತರ ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೋಸ್ಕೋಪ್‌ನಿಂದ ಧ್ರುವೀಕೃತ ಬೆಳಕನ್ನು 2 ಕಿರಣಗಳಾಗಿ ವಿಂಗಡಿಸಲಾಗಿದೆ. ಒಂದು ಬೆಳಕಿನ ಕಿರಣವು ರೆಫರೆನ್ಸ್ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್‌ನಲ್ಲಿ ಪ್ರತಿಫಲಿಸುತ್ತದೆ, ಅಲ್ಲಿ ಸಂಗ್ರಹಿಸಿದ ಬೆಳಕಿನ ಕಿರಣವನ್ನು ಬೆಳಕಿನ ಮೂಲದ ಏರಿಳಿತಗಳಿಂದ ಶಕ್ತಿಯ ದಿಕ್ಚ್ಯುತಿಯನ್ನು ಸರಿಪಡಿಸಲು ಉಲ್ಲೇಖವಾಗಿ ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ ಮತ್ತು ಇನ್ನೊಂದು ಬೆಳಕಿನ ಕಿರಣವು ಮಾದರಿಯ ಮೂಲಕ ಹಾದುಹೋಗುತ್ತದೆ, ಕೊಲಿಮೇಟರ್ 3 ಮತ್ತು ಕೊಲಿಮೇಟರ್‌ನಿಂದ ಮರುರೂಪಿಸಲಾಗಿದೆ. 4, ಮತ್ತು ಪರೀಕ್ಷೆಯ ಬಲ ತುದಿಯಲ್ಲಿರುವ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ ಅನ್ನು ಪ್ರವೇಶಿಸುತ್ತದೆ. ನಿಜವಾದ ಪರೀಕ್ಷೆಯಲ್ಲಿ, ಪರೀಕ್ಷಿಸಿದ ಮಾದರಿಯನ್ನು ಹಾಕುವ ಮತ್ತು ತೆಗೆದುಕೊಳ್ಳುವ ಮೂಲಕ ಎರಡು ಶಕ್ತಿಯ ಮೌಲ್ಯಗಳನ್ನು ಪಡೆಯಲಾಗುತ್ತದೆ ಮತ್ತು ಶಕ್ತಿಯನ್ನು ಹೋಲಿಸುವ ಮೂಲಕ ಮಾದರಿಯ ಪ್ರಸರಣವನ್ನು ಪಡೆಯಬಹುದು.
ಎಲಿಪ್ಸೋಮೀಟರ್‌ನ ತತ್ವವು ಮೇಲಿನ ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೋಫೋಟೋಮೀಟರ್‌ನ ತತ್ವವನ್ನು ಹೋಲುತ್ತದೆ, ಕಿರಣವನ್ನು ಕಳುಹಿಸುವ ಚಾನಲ್ ಮತ್ತು ಸ್ವೀಕರಿಸುವ ಚಾನಲ್‌ನಲ್ಲಿ ತಿರುಗುವ 1/4 ತರಂಗ ಫಲಕವನ್ನು ಪರಿಹಾರ ಅಂಶವಾಗಿ ಸೇರಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ ಮತ್ತು ಸ್ವೀಕರಿಸುವ ಚಾನಲ್‌ನಲ್ಲಿ ಧ್ರುವೀಕರಣವನ್ನು ಸಹ ಸೇರಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ. , ಆದ್ದರಿಂದ ಮಾದರಿಯ ಧ್ರುವೀಕರಣ ಗುಣಲಕ್ಷಣಗಳನ್ನು ಹೆಚ್ಚು ಮೃದುವಾಗಿ ವಿಶ್ಲೇಷಿಸಬಹುದು. ಕೆಲವು ಸಂದರ್ಭಗಳಲ್ಲಿ, ಎಲಿಪ್ಸೋಮೀಟರ್ ನೇರವಾಗಿ ವಿಶಾಲ ವರ್ಣಪಟಲದ ಬೆಳಕಿನ ಮೂಲವನ್ನು ಬಳಸುತ್ತದೆ ಮತ್ತು ಘಟಕದ ಕಾರ್ಯಕ್ಷಮತೆಯ ಪರೀಕ್ಷೆಯನ್ನು ಸಾಧಿಸಲು ರೇಖೀಯ ಅರೇ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್‌ನೊಂದಿಗೆ ಸಂಯೋಜಿಸಲ್ಪಟ್ಟ ಸ್ವೀಕರಿಸುವ ತುದಿಯಲ್ಲಿ ಸ್ಲಿಟ್ ಮತ್ತು ಸ್ಪ್ಲಿಟರ್ ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೋಮೀಟರ್ ಅನ್ನು ಅಳವಡಿಸಿಕೊಳ್ಳುತ್ತದೆ.
3. ಪ್ರಸರಣ ಪರೀಕ್ಷೆ

ಪ್ರಸರಣ ಪರೀಕ್ಷೆಯಲ್ಲಿ, ಬೆಳಕಿನ ಕಿರಣವನ್ನು ಸ್ವೀಕರಿಸುವ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ನ ಪ್ರತಿಫಲನವನ್ನು ತಪ್ಪಿಸಲು, ಸಂಯೋಜಿಸುವ ಗೋಳವನ್ನು ಹೆಚ್ಚಾಗಿ ರಿಸೀವರ್ ಆಗಿ ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ, ತತ್ವವನ್ನು ಈ ಕೆಳಗಿನಂತೆ ತೋರಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ:

ಮೇಲಿನ ಚಿತ್ರದಿಂದ ನೋಡಬಹುದಾದಂತೆ, ಇಂಟಿಗ್ರೇಟಿಂಗ್ ಗೋಳವು ಒಳಗಿನ ಗೋಡೆಯ ಮೇಲೆ ಬಿಳಿ ಪ್ರಸರಣ ಪ್ರತಿಫಲನ ಲೇಪನ ವಸ್ತುಗಳಿಂದ ಲೇಪಿತವಾದ ಕುಹರದ ಗೋಳವಾಗಿದೆ ಮತ್ತು ಚೆಂಡಿನ ಗೋಡೆಯ ಮೇಲೆ ಕಿಟಕಿ ರಂಧ್ರವಿದೆ, ಇದನ್ನು ಘಟನೆಯ ಬೆಳಕಿನ ಬೆಳಕಿನ ರಂಧ್ರವಾಗಿ ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಮತ್ತು ಬೆಳಕಿನ ಪತ್ತೆಕಾರಕದ ಸ್ವೀಕರಿಸುವ ರಂಧ್ರ. ಈ ರೀತಿಯಾಗಿ, ಸಂಯೋಜಿಸುವ ಗೋಳವನ್ನು ಪ್ರವೇಶಿಸುವ ಬೆಳಕು ಒಳಗಿನ ಗೋಡೆಯ ಲೇಪನದ ಮೂಲಕ ಹಲವಾರು ಬಾರಿ ಪ್ರತಿಫಲಿಸುತ್ತದೆ, ಒಳಗಿನ ಗೋಡೆಯ ಮೇಲೆ ಏಕರೂಪದ ಪ್ರಕಾಶವನ್ನು ರೂಪಿಸುತ್ತದೆ ಮತ್ತು ಪತ್ತೆಕಾರಕದಿಂದ ಸ್ವೀಕರಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ.
ಉದಾಹರಣೆಯಾಗಿ, ಆಪ್ಟಿಕಲ್ ಪ್ಲೇಟ್‌ನ ಪ್ರಸರಣವನ್ನು ಪರೀಕ್ಷಿಸಲು ಬಳಸುವ ಸಾಧನದ ರಚನೆಯನ್ನು ಕೆಳಗೆ ತೋರಿಸಲಾಗಿದೆ

ಮೇಲಿನ ಚಿತ್ರದಲ್ಲಿ, ಪರೀಕ್ಷಿಸಿದ ಮಾದರಿಯನ್ನು x ಮತ್ತು y ದಿಕ್ಕುಗಳಲ್ಲಿ ಬದಲಾಯಿಸಬಹುದಾದ ಹೊಂದಾಣಿಕೆ ಕೋಷ್ಟಕದಲ್ಲಿ ಇರಿಸಲಾಗಿದೆ. ಹೊಂದಾಣಿಕೆ ಕೋಷ್ಟಕದ ಕಂಪ್ಯೂಟರ್ ನಿಯಂತ್ರಣದ ಮೂಲಕ ಮಾದರಿಯ ಪ್ರಸರಣವನ್ನು ಯಾವುದೇ ಸ್ಥಾನದಲ್ಲಿ ಪರೀಕ್ಷಿಸಬಹುದು. ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಪರೀಕ್ಷೆಯ ಮೂಲಕ ಸಂಪೂರ್ಣ ಫ್ಲಾಟ್ ಗ್ಲಾಸ್‌ನ ಪ್ರಸರಣ ವಿತರಣೆಯನ್ನು ಸಹ ಪಡೆಯಬಹುದು ಮತ್ತು ಪರೀಕ್ಷೆಯ ರೆಸಲ್ಯೂಶನ್ ಕಿರಣದ ಸ್ಪಾಟ್ ಗಾತ್ರವನ್ನು ಅವಲಂಬಿಸಿರುತ್ತದೆ.
4. ಪ್ರತಿಫಲಿತ ಪರೀಕ್ಷೆ

ಆಪ್ಟಿಕಲ್ ಫಿಲ್ಮ್ ಪ್ರತಿಫಲನದ ಮಾಪನಕ್ಕೆ ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ಎರಡು ಮಾರ್ಗಗಳಿವೆ, ಒಂದು ಸಾಪೇಕ್ಷ ಮಾಪನ ಮತ್ತು ಇನ್ನೊಂದು ಸಂಪೂರ್ಣ ಮಾಪನ. ಸಾಪೇಕ್ಷ ಮಾಪನ ವಿಧಾನಕ್ಕೆ ಹೋಲಿಕೆ ಪರೀಕ್ಷೆಗೆ ಉಲ್ಲೇಖವಾಗಿ ಬಳಸಬೇಕಾದ ತಿಳಿದಿರುವ ಪ್ರತಿಫಲನದೊಂದಿಗೆ ಪ್ರತಿಫಲಕ ಅಗತ್ಯವಿರುತ್ತದೆ. ಪ್ರಾಯೋಗಿಕವಾಗಿ, ಉಲ್ಲೇಖ ಕನ್ನಡಿಯ ಪ್ರತಿಫಲನವನ್ನು ಫಿಲ್ಮ್ ಪದರದ ವಯಸ್ಸಾದ ಅಥವಾ ಮಾಲಿನ್ಯದೊಂದಿಗೆ ನಿಯಮಿತವಾಗಿ ಮಾಪನಾಂಕ ಮಾಡಬೇಕಾಗುತ್ತದೆ. ಆದ್ದರಿಂದ, ಈ ವಿಧಾನವು ಸಂಭಾವ್ಯ ಮಾಪನ ದೋಷಗಳನ್ನು ಹೊಂದಿದೆ. ಸಂಪೂರ್ಣ ಪ್ರತಿಫಲನ ಮಾಪನದ ವಿಧಾನಕ್ಕೆ ಮಾದರಿಯನ್ನು ಇರಿಸದೆಯೇ ಪರೀಕ್ಷಾ ಸಾಧನದ ಪ್ರತಿಫಲನದ ಮಾಪನಾಂಕ ನಿರ್ಣಯದ ಅಗತ್ಯವಿದೆ. ಕೆಳಗಿನ ಚಿತ್ರದಲ್ಲಿ, ಮಾದರಿಯ ಪ್ರತಿಫಲನದ ಸಂಪೂರ್ಣ ಮಾಪನವನ್ನು ಸಾಧಿಸಲು ಕ್ಲಾಸಿಕ್ VW ಸಾಧನದ ರಚನೆಯನ್ನು ನೀಡಲಾಗಿದೆ:

ಮೇಲಿನ ಚಿತ್ರದಲ್ಲಿನ ಎಡ ಚಿತ್ರವು M1, M2 ಮತ್ತು M3 ಎಂಬ ಮೂರು ಕನ್ನಡಿಗಳನ್ನು ಒಳಗೊಂಡಿರುವ V- ಆಕಾರದ ರಚನೆಯನ್ನು ತೋರಿಸುತ್ತದೆ. ಮೊದಲಿಗೆ, ಈ ಕ್ರಮದಲ್ಲಿ ಬೆಳಕಿನ ತೀವ್ರತೆಯ ಮೌಲ್ಯವನ್ನು ಪರೀಕ್ಷಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ ಮತ್ತು P1 ಎಂದು ದಾಖಲಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ನಂತರ, ಸರಿಯಾದ ಚಿತ್ರದಲ್ಲಿ, ಪರೀಕ್ಷೆಯ ಅಡಿಯಲ್ಲಿ ಮಾದರಿಯನ್ನು ಹಾಕಲಾಗುತ್ತದೆ ಮತ್ತು W- ಆಕಾರದ ರಚನೆಯನ್ನು ರೂಪಿಸಲು M2 ಕನ್ನಡಿಯನ್ನು ಮೇಲಿನ ಸ್ಥಾನಕ್ಕೆ ತಿರುಗಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಅಳತೆ ಮಾಡಿದ ಮಾದರಿಯ ಸಂಪೂರ್ಣ ಪ್ರತಿಫಲನವನ್ನು ಪಡೆಯಬಹುದು. ಈ ಸಾಧನವನ್ನು ಸಹ ಸುಧಾರಿಸಬಹುದು, ಉದಾಹರಣೆಗೆ, ಪರೀಕ್ಷೆಯಲ್ಲಿರುವ ಮಾದರಿಯು ಸ್ವತಂತ್ರ ತಿರುಗುವ ಕೋಷ್ಟಕವನ್ನು ಸಹ ಹೊಂದಿದೆ, ಆದ್ದರಿಂದ ಪರೀಕ್ಷೆಯ ಅಡಿಯಲ್ಲಿ ಮಾದರಿಯನ್ನು ಯಾವುದೇ ಕೋನಕ್ಕೆ ತಿರುಗಿಸಬಹುದು, M2 ಕನ್ನಡಿಯನ್ನು ಅನುಗುಣವಾದ ಪ್ರತಿಬಿಂಬದ ಸ್ಥಾನಕ್ಕೆ ತಿರುಗಿಸುವ ಮೂಲಕ, ಸಾಧಿಸಲು ಬೀಮ್ ಔಟ್‌ಪುಟ್, ಇದರಿಂದ ಮಾದರಿಯ ಪ್ರತಿಫಲನವನ್ನು ಬಹು ಕೋನಗಳಲ್ಲಿ ಪರೀಕ್ಷಿಸಬಹುದಾಗಿದೆ.
ಉದಾಹರಣೆಯಾಗಿ, ಆಪ್ಟಿಕಲ್ ಪ್ಲೇಟ್‌ನ ಪ್ರತಿಫಲನವನ್ನು ಪರೀಕ್ಷಿಸಲು ಬಳಸುವ ಸಾಧನದ ರಚನೆಯನ್ನು ಕೆಳಗೆ ತೋರಿಸಲಾಗಿದೆ:

ಮೇಲಿನ ಚಿತ್ರದಲ್ಲಿ, ಪರೀಕ್ಷಿತ ಮಾದರಿಯನ್ನು x/y ಅನುವಾದ ಹೊಂದಾಣಿಕೆ ಕೋಷ್ಟಕದಲ್ಲಿ ಇರಿಸಲಾಗಿದೆ ಮತ್ತು ಹೊಂದಾಣಿಕೆ ಕೋಷ್ಟಕದ ಕಂಪ್ಯೂಟರ್ ನಿಯಂತ್ರಣದ ಮೂಲಕ ಮಾದರಿಯ ಪ್ರತಿಫಲನವನ್ನು ಯಾವುದೇ ಸ್ಥಾನದಲ್ಲಿ ಪರೀಕ್ಷಿಸಬಹುದು. ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಪರೀಕ್ಷೆಯ ಮೂಲಕ, ಸಂಪೂರ್ಣ ಫ್ಲಾಟ್ ಗ್ಲಾಸ್‌ನ ಪ್ರತಿಫಲನ ವಿತರಣಾ ನಕ್ಷೆಯನ್ನು ಸಹ ಪಡೆಯಬಹುದು.

ಸಂಪರ್ಕ:
Email:jasmine@pliroptics.com ;
ಫೋನ್/Whatsapp/Wechat:86 19013265659
ವೆಬ್: www.pliroptics.com

ಸೇರಿಸಿ:ಕಟ್ಟಡ 1, ನಂ.1558, ಗುಪ್ತಚರ ರಸ್ತೆ, ಕಿಂಗ್ಬೈಜಿಯಾಂಗ್, ಚೆಂಗ್ಡು, ಸಿಚುವಾನ್, ಚೀನಾ