Brewster Windows sine reflexione damna P-Polarisation
Fenestrae Brewster de more adhibentur ut polarizers in cavitatibus laser. Cum ad angulum Brewster positum (55° 32′ ad 633 um), portio lucis P polarizata per fenestram nullis damnis transibit, cum fractio portionis S-polarizatae de fenestra Brewster reflectetur. Cum in cavo laseris usus est, fenestra Brewster essentialiter polarizer agit.
Angulus Brewster datur a
tan (θ *B) = nt/ni
θBest Brewster angulus
niest index refractionis medii incidenti, quod est 1.0003 pro aere
ntest index refractionis medii transmittendi, quod est 1.45701 pro fuso silica in 633 um
Paralight Optica fenestras Brewster offert fabricatas ab N-BK7 (Grade A) vel UV silica fuso, quae nullam fere fluorescentiam laser-inductam (uti ad 193 um mensuratam) exhibet, ut specimen electionis applicationis ab UV ad IR proximam exhibeat. . Quaeso videas sequentia Graph exhibens reflexionem pro utroque S- et P-polarizatione per UV silicam fusam ad 633 um pro indiciis tuis.
Features:
Materia:
N-BK7 or UV Fused Silica Substrate
Laser Damnum Quantitatis Test:
Princeps damnum Limen (Uncoated)
Optical euismod:
Nulla Reflexio damni ad P-Polarisation, XX% Meditatio pro S-Polarisation
Applicationes:
Specimen pro Laser cavitatibus
Communia Formularium:
Reference Drawing for
Brewster Fenestra
Relatio ad sinistram ducta ostendit reflexionem lucis S polarized et transmissionis lucis P-polarizatae per fenestram Brewster. Aliquid lumen S-polarized per fenestram transmittetur.
Morbi laoreet
Tolerantiae &
-
Substratum Material
N-BK7 (Grade A), UV conflata silica
-
Type
Plana seu figitur Laser Fenestra (circum, quadrata, etc.)
-
Magnitudo
Consuetudo facta
-
Magnitudo Tolerantia
Typical: +0.00/-0.20mm | Subtilitas: +0.00/-0.10mm
-
Crassitudo
Consuetudo facta
-
Crassitudo tolerantia
Typical: +/-0.20mm | Subtilitas: +/-0.10mm
-
Patet Apertura
> 90%
-
Parallelismus
Precision: ≤10 arcsec | High Precision: ≤5 arcsec
-
Superficies Quality (Scratch - Dig)
Precision: 60 - 40 | High Precision: 20-10
-
Superficies Flatness @ 633 nm
Precision: ≤ λ/10 | Magna cura: ≤ λ/20
-
Traducitur Wavefront Error
≤ λ/10 @ 632.8 nm
-
Chamfer
Tutus:< 0.5mm x 45°
-
Coating
Uncoated
-
Necem Ranges
185 - 2100 nm
-
Laser damnum Limen
>20 J/cm2(20ns, 20Hz, @1064nm)
Graphs
♦ Graph ad dextram demonstrat calculam reflexionem silicae UV fusae infuscatae ad lucem polarizatam in varios angulos incidentiae (Reflexio lucis P-polarizatae ad angulum Brewster nullatenus accedit).
♦ Index refractionis UV silicae fusae cum necem variat in sequenti graphe sinistra exhibito (index calculi refractionis UV silicae fusi ut functio quantitatis ab 200 um ad 2.2 µm).
♦ Sequentia graphi dextrae ostendit valorem θB (anguli Brewster) ut functionem essendi ab 200 um ad 2.2 µm cum lux ab aere ad UV silica fusa transit.
Index refractionis Necem Dependens
