English
  • Brewster-Windows-UV-1

Brewster Windows bez P-polarizācijas atstarošanas zudumiem

Brewster Windows ir nepārklātas pamatnes, ko var izmantot sērijveidā kā polarizatorus vai daļēji polarizēta stara attīrīšanai. Novietojot Brewstera leņķī, gaismas P-polarizētā komponente ieplūst un iziet no loga bez atstarošanas zudumiem, savukārt S-polarizētā sastāvdaļa ir daļēji atstarota. Mūsu Brewster logu 20–10 skrāpējumu virsmas kvalitāte un λ/10 pārraidītās viļņu frontes kļūda padara tos par ideālu izvēli lāzera dobumiem.

Brewster logus parasti izmanto kā polarizatorus lāzera dobumos. Novietojot Brewster leņķī (55° 32′ pie 633 nm), P-polarizētā gaismas daļa izies cauri logam bez zudumiem, savukārt daļa S-polarizētās daļas tiks atstarota no Brewster loga. Lietojot lāzera dobumā, Brewster logs būtībā darbojas kā polarizators.
Brūstera leņķi nosaka ar
iedegums(θB) = nt/ni
θBir Brūstera leņķis
niir krītošās vides refrakcijas indekss, kas gaisam ir 1,0003
ntir raidošās vides refrakcijas indekss, kas ir 1,45701 kausētam silīcija dioksīdam pie 633 nm

Paralight Optics piedāvā Brewster logi ir izgatavoti no N-BK7 (A pakāpe) vai UV kausēta silīcija dioksīda, kas praktiski neuzrāda lāzera izraisītu fluorescenci (mērot pie 193 nm), padarot to par ideālu izvēli lietojumiem no UV līdz tuvajam infrasarkanajam starojumam. . Uzziņai, lūdzu, skatiet šo grafiku, kurā parādīts gan S-, gan P-polarizācijas atstarojums, izmantojot UV kausētu silīcija dioksīdu pie 633 nm.

ikona-radio

Funkcijas:

Materiāls:

N-BK7 vai UV kausēta silīcija dioksīda substrāts

Lāzera bojājumu kvantitatīvas noteikšanas tests:

Augsts bojājumu slieksnis (bez pārklājuma)

Optiskās veiktspējas:

Nulles atstarošanas zudums P-polarizācijai, 20% atstarojums S-polarizācijai

Lietojumprogrammas:

Ideāli piemērots lāzera dobumiem

ikonas funkcija

Kopējās specifikācijas:

pro-saistīts-ico

Atsauces zīmējums

Brewster logs

Atsauces zīmējumā pa kreisi parādīts S-polarizētās gaismas atstarojums un P-polarizētās gaismas pārraide caur Brewster logu. Daļa S-polarizētās gaismas tiks pārraidīta caur logu.

Parametri

Diapazoni un pielaides

  • Pamatnes materiāls

    N-BK7 (A kategorija), UV kausēts silīcija dioksīds

  • Tips

    Plakans vai ķīļveida lāzerlogs (apaļš, kvadrātveida utt.)

  • Izmērs

    Izgatavots pēc pasūtījuma

  • Izmēru pielaide

    Tipiski: +0,00/-0,20 mm | Precizitāte: +0,00/-0,10 mm

  • Biezums

    Izgatavots pēc pasūtījuma

  • Biezuma tolerance

    Tipiski: +/-0,20 mm | Precizitāte: +/-0,10 mm

  • Skaidra apertūra

    > 90%

  • Paralēlisms

    Precizitāte: ≤10 loka sek. | Augsta precizitāte: ≤5 loka sek

  • Virsmas kvalitāte (skrāpēšana — rakšana)

    Precizitāte: 60 - 40 | Augsta precizitāte: 20-10

  • Virsmas līdzenums pie 633 nm

    Precizitāte: ≤ λ/10 | Augsta precizitāte: ≤ λ/20

  • Pārsūtītā viļņu frontes kļūda

    ≤ λ/10 pie 632,8 nm

  • Chamfer

    Aizsargāts:< 0,5 mm x 45°

  • Pārklājums

    Nepārklāts

  • Viļņu garuma diapazoni

    185 - 2100 nm

  • Lāzera bojājumu slieksnis

    >20 J/cm2(20ns, 20Hz, @1064nm)

grafiki-attēls

Grafiki

♦ Grafikā labajā pusē ir parādīta aprēķinātā nepārklāta UV kausēta silīcija dioksīda atstarošanās spēja polarizētai gaismai dažādos krišanas leņķos (P-polarizētās gaismas atstarošanās spēja Brūstera leņķī sasniedz nulli).
♦ UV kausēta silīcija dioksīda refrakcijas indekss mainās atkarībā no viļņa garuma, kas parādīts nākamajā kreisajā grafikā (aprēķinātais UV kausēta silīcija dioksīda refrakcijas indekss kā viļņa garuma funkcija no 200 nm līdz 2,2 μm).
♦ Nākamajā labās puses grafikā parādīta aprēķinātā θB vērtība (Brewstera leņķis) kā funkcija no viļņa garuma no 200 nm līdz 2,2 μm, kad gaisma pāriet no gaisa uz UV kausētu silīcija dioksīdu.

produktu līnijas attēls

Refrakcijas indekss ir atkarīgs no viļņa garuma

produktu līnijas attēls

Brewstera leņķis ir atkarīgs no viļņa garuma

Saistītie produkti

Nospiediet Enter, lai meklētu, vai ESC, lai aizvērtu