Brewster Windows mingħajr telf ta 'Riflessjoni ta' P-Polarization
Twieqi Brewster huma tipikament użati bħala polarizzaturi fil-kavitajiet tal-laser. Meta jitqiegħed f'angolu ta 'Brewster (55° 32′ f'633 nm), il-porzjon P-polarizzat tad-dawl se jgħaddi mit-tieqa mingħajr telf, filwaqt li frazzjoni tal-porzjon S-polarizzat se tkun riflessa mit-tieqa ta' Brewster. Meta tintuża f'kavità tal-lejżer, it-tieqa Brewster essenzjalment taġixxi bħala polarizzatur.
L-angolu ta' Brewster huwa mogħti minn
tan(θB) = nt/ni
θBhuwa l-angolu ta' Brewster
nihuwa l-indiċi tar-rifrazzjoni tal-medju inċident, li huwa 1.0003 għall-arja
nthuwa l-indiċi tar-rifrazzjoni tal-mezz li jittrasmetti, li huwa 1.45701 għal silika mdewba f'633 nm
Paralight Optics joffri It-twieqi ta' Brewster huma fabbrikati minn N-BK7 (Grad A) jew silika mdewba bl-UV, li prattikament ma tesibixxi l-ebda fluworexxenza kkaġunata bil-lejżer (kif imkejla f'193 nm), li jagħmilha għażla ideali għal applikazzjonijiet mill-UV sal-IR qrib. . Jekk jogħġbok ara l-Grafika li ġejja li turi r-riflettanza kemm għall-polarizzazzjoni S- kif ukoll għall-P-polarizzazzjoni permezz tas-silika fused UV f'633 nm għar-referenzi tiegħek.
Karatteristiċi:
Materjal:
N-BK7 jew UV Fused Silica Substrat
Test ta' Kwantifikazzjoni tal-Ħsara tal-Laser:
Limitu Għoli ta' Ħsara (Mhux miksi)
Prestazzjonijiet Ottiċi:
Telf ta' Riflessjoni Żero għal P-Polarizzazzjoni, 20% Riflessjoni għal S-Polarizzazzjoni
Applikazzjonijiet:
Ideali għal Kavitajiet tal-Laser
Speċifikazzjonijiet Komuni:
Tpinġija ta' Referenza għal
Tieqa ta' Brewster
It-tpinġija ta 'referenza fuq ix-xellug turi r-rifless tad-dawl S-polarizzat u t-trasmissjoni ta' dawl P-polarizzat minn tieqa Brewster. Xi dawl S-polarizzat se jiġi trażmess mit-tieqa.
Parametri
Firxiet u Tolleranzi
-
Materjal tas-Sustrat
N-BK7 (Grad A), silika mdewba UV
-
Tip
Tieqa tal-Laser Ċatta jew Wedged (tonda, kwadra, eċċ.)
-
Daqs
Magħmul apposta
-
Tolleranza tad-Daqs
Tipiku: +0.00/-0.20mm | Preċiżjoni: + 0.00/-0.10mm
-
Ħxuna
Magħmul apposta
-
Tolleranza tal-ħxuna
Tipiku: +/-0.20mm | Preċiżjoni: +/-0.10mm
-
Apertura ċara
> 90%
-
Paralleliżmu
Preċiżjoni: ≤10 arcsec | Preċiżjoni Għolja: ≤5 arcsec
-
Kwalità tal-wiċċ (Scratch - Ħaffer)
Preċiżjoni: 60 - 40 | Preċiżjoni Għolja: 20-10
-
Flatness tal-wiċċ @ 633 nm
Preċiżjoni: ≤ λ/10 | Preċiżjoni għolja: ≤ λ/20
-
Żball Wavefront Trażmess
≤ λ/10 @ 632.8 nm
-
Ċanfrin
Protetti:< 0.5mm x 45°
-
Kisi
Mhux miksi
-
Meded ta' Wavelength
185 - 2100 nm
-
Limitu tal-Ħsara tal-Laser
> 20 J/ċm2(20ns, 20Hz, @1064nm)
Graffs
♦ Il-graff fuq il-lemin turi r-riflettanza kkalkulata tas-silika mdewba UV mhux miksija għal dawl polarizzat f'diversi angoli ta 'inċidenza (Ir-riflettanza għal dawl polarizzat P tmur għal żero fl-angolu ta' Brewster).
♦ L-indiċi tar-rifrazzjoni tas-silika mdewba UV ivarja skond il-wavelength murija fil-graff tax-xellug li ġej (l-indiċi ta 'rifrazzjoni ta' silika mdewba UV bħala funzjoni ta 'wavelength minn 200 nm sa 2.2 μm).
♦ Il-grafika tal-lemin li ġejja turi l-valur ikkalkulat ta 'θB (angolu ta' Brewster) bħala funzjoni ta 'wavelength minn 200 nm sa 2.2 μm meta d-dawl ikun qed jgħaddi mill-arja għal silika fused UV.
L-Indiċi tar-rifrazzjoni huwa Dipendenti mit-Tul ta' Mewġ
