फिल्म प्यारामिटर परीक्षण - प्रसारण र परावर्तन

माथिको अप्टिकल गुणहरू बाहेक, अप्टिकल फिल्म तहको मेकानिकल र रासायनिक गुणहरू पनि विचार गर्न आवश्यक छ, फिल्म तहको पहिरन प्रतिरोध, दृढता, घुलनशीलता सहित। थप रूपमा, कोटिंग पछि अप्टिकल सतहको गुणस्तर पनि विचार गर्न आवश्यक छ, पिटिङ्, स्क्र्याच, फोहोर, दाग, इत्यादिका लागि आवश्यकताहरू सहित।
2 स्पेक्ट्रोफोटोमिटर को सिद्धान्त

यस पेपरमा, हामी फिल्म परीक्षण विधिहरूको अप्टिकल गुणहरूमा ध्यान केन्द्रित गर्दछौं, व्यवहारमा, मुख्य स्पेक्ट्रोफोटोमिटर (स्पेक्ट्रोफोटोमिटर) र एलिप्सोमिटर (एलिप्सोमिटर) फिल्म प्यारामिटरहरू परीक्षण गर्न, स्पेक्ट्रोफोटोमिटरले अप्टिकलको ट्रान्समिटेन्स, परावर्तन र अवशोषण विशेषताहरू परीक्षण गर्न सक्छ। उत्पादनहरु। एलिप्सोमिटरले फिल्म तहको मोटाई र ध्रुवीकरण विशेषताहरू मापन गर्न सक्छ, र दुवैको सिद्धान्त समान छ।
यस्तो उपकरणको संरचनालाई बीम उत्पादन च्यानल र बीम प्राप्त गर्ने च्यानलको दुई भागमा विभाजन गर्न सकिन्छ, जब कम्पोनेन्टको ट्रान्समिटेन्स परीक्षण गर्न आवश्यक हुन्छ, कम्पोनेन्टलाई दुई च्यानलहरूको बीचमा राखिन्छ, ताकि बीम नमूना मार्फत जान्छ, जब कम्पोनेन्टको परावर्तन परीक्षण गर्न आवश्यक हुन्छ, कम्पोनेन्टलाई दुई च्यानलहरूको एउटै छेउमा राखिन्छ, ताकि किरण नमूनाबाट प्रतिबिम्बित हुन्छ। उदाहरणको रूपमा, नमूनाको ट्रान्समिटेन्स मापन गर्न स्पेक्ट्रोफोटोमिटरको सिद्धान्त निम्न चित्रमा देखाइएको छ:

माथिको चित्रमा, बायाँ छेउ बीम उत्पादन च्यानल हो, प्रकाश उत्सर्जन गर्न फराकिलो स्पेक्ट्रम प्रकाश स्रोत प्रयोग गरेर, र त्यसपछि ग्रेटिंग को विभाजन र स्लिट को चयन मार्फत, प्रकाश को एक विशिष्ट तरंगदैर्ध्य आउटपुट, किरण पास हुन्छ। कोलिमेटर 1, कोलिमिटर बीम बन्छ, र त्यसपछि कोण घुमाउन सक्ने ध्रुवीकरणकर्ता मार्फत जान्छ, ध्रुवीकृत प्रकाश बन्छ, र ध्रुवीकृत प्रकाश collimator 2 जम्मा भएपछि स्पेक्ट्रोस्कोप द्वारा 2 बीमहरूमा विभाजित हुन्छ। एक प्रकाश किरण सन्दर्भ डिटेक्टरमा प्रतिबिम्बित हुन्छ, जहाँ सङ्कलन गरिएको प्रकाश किरणलाई प्रकाश स्रोतको उतार-चढ़ावको कारणले ऊर्जा बहावलाई सच्याउन सन्दर्भको रूपमा प्रयोग गरिन्छ, र अर्को प्रकाश किरण नमूनाबाट गुजर्छ, कोलिमेटर 3 र कोलिमेटरद्वारा पुन: आकार दिइन्छ। 4, र परीक्षणको टाढा दायाँ छेउमा डिटेक्टरमा प्रवेश गर्दछ। वास्तविक परीक्षणमा, परीक्षण गरिएको नमूना राखेर र बाहिर निकालेर दुईवटा ऊर्जा मानहरू प्राप्त गरिन्छ, र ऊर्जाको तुलना गरेर नमूनाको प्रसारण प्राप्त गर्न सकिन्छ।
एलिप्सोमिटरको सिद्धान्त माथिको स्पेक्ट्रोफोटोमिटरको सिद्धान्तसँग मिल्दोजुल्दो छ, बाहेक घुमाउने १/४ तरंग प्लेट बीम पठाउने च्यानल र प्राप्त गर्ने च्यानलमा क्षतिपूर्ति तत्वको रूपमा थपिएको छ, र प्राप्त गर्ने च्यानलमा पोलाराइजर पनि थपिएको छ। , ताकि नमूनाको ध्रुवीकरण विशेषताहरू थप लचिलो रूपमा विश्लेषण गर्न सकिन्छ। केही अवस्थामा, एलिप्सोमिटरले सीधै फराकिलो स्पेक्ट्रम प्रकाश स्रोत प्रयोग गर्दछ, र कम्पोनेन्टको कार्यसम्पादन परीक्षण प्राप्त गर्न रैखिक एरे डिटेक्टरसँग मिलाएर प्राप्त गर्ने अन्तमा स्लिट र स्प्लिटर स्पेक्ट्रोमिटर अपनाउँछ।
3. प्रसारण परीक्षण

प्रसारण परीक्षणमा, प्रकाश बीम प्राप्त गर्ने डिटेक्टरको प्रतिबिम्बबाट बच्नको लागि, एकीकृत क्षेत्र प्राय: रिसीभरको रूपमा प्रयोग गरिन्छ, सिद्धान्त निम्नानुसार देखाइएको छ:

माथिको चित्रबाट देख्न सकिन्छ, एकीकृत क्षेत्र भनेको भित्री भित्तामा सेतो डिफ्यूज रिफ्लेक्शन कोटिंग सामग्रीले लेपित गुफा गोला हो, र बल भित्तामा एउटा झ्यालको प्वाल छ, जुन घटना प्रकाशको प्रकाश प्वालको रूपमा प्रयोग गरिन्छ। र प्रकाश डिटेक्टर को प्राप्त प्वाल। यस तरिकाले, एकीकृत क्षेत्रमा प्रवेश गर्ने प्रकाश भित्री पर्खाल कोटिंग मार्फत धेरै पटक प्रतिबिम्बित हुन्छ, भित्री पर्खालमा एक समान प्रकाश बनाउँछ, र डिटेक्टर द्वारा प्राप्त हुन्छ।
उदाहरणको रूपमा, अप्टिकल प्लेटको ट्रान्समिटन्स परीक्षण गर्न प्रयोग गरिने यन्त्रको संरचना तल देखाइएको छ

माथिको चित्रमा, परीक्षण गरिएको नमूना समायोजन तालिकामा राखिएको छ जुन x र y दिशाहरूमा सार्न सकिन्छ। नमूनाको प्रसारण समायोजन तालिकाको कम्प्युटर नियन्त्रण द्वारा कुनै पनि स्थितिमा परीक्षण गर्न सकिन्छ। सम्पूर्ण समतल गिलासको प्रसारण वितरण पनि स्क्यानिङ परीक्षणद्वारा प्राप्त गर्न सकिन्छ, र परीक्षणको रिजोल्युसन बीमको स्पट साइजमा निर्भर गर्दछ।
4. परावर्तन परीक्षण

अप्टिकल फिल्म रिफ्लेभिभिटीको मापनको लागि, त्यहाँ सामान्यतया दुई तरिकाहरू छन्, एउटा सापेक्ष मापन हो र अर्को निरपेक्ष मापन हो। सापेक्ष मापन विधिलाई तुलना परीक्षणको लागि सन्दर्भको रूपमा प्रयोग गर्न ज्ञात प्रतिबिम्बको साथ एक परावर्तक आवश्यक छ। अभ्यासमा, सन्दर्भ ऐनाको प्रतिबिम्बलाई फिल्म तहको उमेर वा प्रदूषणको साथ नियमित रूपमा क्यालिब्रेट गर्न आवश्यक छ। तसर्थ, यस विधिमा सम्भावित मापन त्रुटिहरू छन्। निरपेक्ष परावर्तकता मापन को विधि नमूना राखी बिना परीक्षण उपकरण को परावर्तकता को क्यालिब्रेसन आवश्यक छ। तलको चित्रमा, नमूनाको परावर्तनको पूर्ण मापन प्राप्त गर्न क्लासिक VW उपकरणको संरचना दिइएको छ:

माथिको चित्रको बायाँ चित्रले M1, M2 र M3 तीनवटा ऐना मिलेर V आकारको संरचना देखाउँछ। पहिलो, यस मोडमा प्रकाश तीव्रता मान परीक्षण र P1 को रूपमा रेकर्ड गरिएको छ। त्यसपछि, सही आकृतिमा, परीक्षण अन्तर्गत नमूना राखिएको छ, र M2 ऐनालाई W आकारको संरचना बनाउन शीर्ष स्थानमा घुमाइन्छ। मापन गरिएको नमूनाको पूर्ण परावर्तन प्राप्त गर्न सकिन्छ। यो उपकरण पनि सुधार गर्न सकिन्छ, उदाहरणका लागि, परीक्षण अन्तर्गत नमूना पनि एक स्वतन्त्र घुमाउने तालिका संग सुसज्जित छ, ताकि परीक्षण अन्तर्गत नमूना कुनै पनि कोणमा घुमाउन सकिन्छ, M2 मिररलाई सम्बन्धित प्रतिबिम्ब स्थितिमा घुमाएर, प्राप्त गर्न। बीम आउटपुट, ताकि नमूनाको परावर्तन धेरै कोणहरूमा परीक्षण गर्न सकिन्छ।
उदाहरणको रूपमा, अप्टिकल प्लेटको परावर्तन परीक्षण गर्न प्रयोग गरिने यन्त्रको संरचना तल देखाइएको छ:

माथिको चित्रमा, परीक्षण गरिएको नमूना x/y अनुवाद समायोजन तालिकामा राखिएको छ, र नमूनाको प्रतिबिम्बता समायोजन तालिकाको कम्प्युटर नियन्त्रण मार्फत कुनै पनि स्थितिमा परीक्षण गर्न सकिन्छ। स्क्यानिङ परीक्षण मार्फत, सम्पूर्ण समतल गिलासको प्रतिबिम्ब वितरण नक्सा पनि प्राप्त गर्न सकिन्छ।

सम्पर्क:
Email:jasmine@pliroptics.com ;
फोन/ह्वाट्सएप/वेच्याट: ८६ १९०१३२६५६५९
वेब: www.pliroptics.com

थप्नुहोस्: भवन 1, नम्बर 1558, इन्टेलिजेन्स रोड, किंगबाइजियांग, चेंगडु, सिचुआन, चीन