Metrologische mogelijkheden

Metrologische mogelijkheden

Paralight Optics maakt gebruik van een verscheidenheid aan metrologietechnieken en biedt inspectieniveaus die zijn aangepast aan uw toepassingsbehoeften. Door een strenge kwaliteitscontrole kunnen wij hoge kwaliteitsnormen handhaven. Voor sommige van onze klanten garandeert 100% oppervlakte-inspectie en spot-randvermogeninspectie op verzoek dat optische componenten en assemblages voldoen aan de gespecificeerde oppervlaktekwaliteit. Bij de meeste klanten wordt steekproefsgewijs voor de testrapporten gebruik gemaakt van internationale inspectiestandaarden zoals NF06-022 of MIL-STD-105E. Bovendien is in-proces metrologie een cruciaal onderdeel van ons strikte ISO 9001 Global Quality Program. Deze metrologie stelt ons in staat de productie in een gecontroleerd en voorspelbaar proces te garanderen. We maken gebruik van een breed scala aan metrologieapparatuur, waaronder:

Meetapparatuur

Zygo-interferometer

Zygo Interferometer voor het meten van oppervlaktenauwkeurigheden

Metrologie-Capabiliti-1

Zygo Profilometer voor het meten van een grotere verscheidenheid aan oppervlakken

Metrologie-Capabiliti-2

Xonox Meetsysteem voor centreerfout

Metrologie-Capabiliti-3

Trioptics OpticSpheric voor het meten van de brandpuntsafstand

Metrologie-Capabiliti-4

Trioptics Super Spherotronic voor radiusmeting

Perkin-Elmer-spectrofotometer, -Bruker-Fourier-transformatie-infraroodspectrometer

Perkin Elmer spectrofotometer om optische eigenschappen te verifiëren