سطح جي معيار
نظرياتي مٿاڇري جي مٿاڇري جي معيار کي بيان ڪري ٿو ته ان جي کاسمتيڪ ظاهري ۽ اهڙيون خرابيون شامل آهن جهڙوڪ خرابي ۽ کڏ، يا کڏ.اڪثر ڪيسن ۾، اهي مٿاڇري جي خرابين خالص طور تي سينگاريل آهن ۽ خاص طور تي سسٽم جي ڪارڪردگي تي اثر انداز نه ڪندا آهن، جيتوڻيڪ، اهي سسٽم جي ذريعي گهٽ ۾ گهٽ نقصان ۽ پکڙيل روشني ۾ هڪ ننڍڙو اضافو سبب ڪري سگهن ٿا.بهرحال، ڪجهه سطحون، بهرحال، انهن اثرن لاءِ وڌيڪ حساس هونديون آهن جهڙوڪ: (1) تصويري جهازن تي سطحون ڇاڪاڻ ته اهي نقص فوڪس ۾ هوندا آهن ۽ (2) سطحون جيڪي اعليٰ طاقت جي سطح کي ڏسنديون آهن ڇاڪاڻ ته اهي خاميون توانائي جي جذب کي وڌائي سگهن ٿيون ۽ نقصان پهچائي سگهن ٿيون. بصري.مٿاڇري جي معيار لاءِ استعمال ٿيل سڀ کان وڌيڪ عام وضاحت آهي سکريچ-ڊيگ وضاحت MIL-PRF-13830B پاران بيان ڪيل.اسڪريچ جي نامزدگي کي سطح تي اسڪريچ جي مقابلي سان طئي ڪيو ويندو آهي ڪنٽرول ٿيل روشني جي حالتن هيٺ معياري اسڪريچ جي سيٽ سان.تنهن ڪري سکريچ نامزدگي اصل اسڪريچ کي بيان نٿو ڪري، بلڪه ان کي MIL-Spec جي مطابق معياري اسڪريچ سان موازنہ ڪري ٿو.جڏهن ته، ڊِگ نامزدگي، سڌي طرح کوٽائي، يا مٿاڇري ۾ ننڍڙي کڏ سان لاڳاپيل آهي.10 کان ورهايل مائڪرن ۾ ڊيگ جي ڊيگ جي ڊيگريٽيشن کي ڳڻيو ويندو آهي. 80-50 جي اسڪريچ-ڊگ جي وضاحتن کي عام طور تي معياري معيار، 60-40 درست معيار، ۽ 20-10 اعلي صحت واري معيار سمجهيو ويندو آهي.
| جدول 6: سطح جي معيار لاءِ پيداواري رواداري | |
| مٿاڇري جو معيار | معيار جي درجي |
| 80-50 | عام |
| 60-40 | سڌائي |
| 40-20 | هاء سڌائي |
مٿاڇري جي برابري
مٿاڇري جي برابري هڪ قسم جي مٿاڇري جي درستگي جي وضاحت آهي جيڪا هڪ لوڻ واري مٿاڇري جي انحراف کي ماپ ڪري ٿي جهڙوڪ آئيني، ونڊو، پرزم، يا پلانو-لينس.هي انحراف هڪ آپٽيڪل فليٽ استعمال ڪندي ماپي سگهجي ٿو، جيڪو هڪ اعليٰ معيار، انتهائي درست فليٽ ريفرنس مٿاڇري آهي، جيڪو ٽيسٽ پيس جي فليٽ جي برابري ڪرڻ لاءِ استعمال ڪيو ويندو آهي.جڏهن ٽيسٽ آپٽڪ جي لوڻ واري مٿاڇري کي آپٽيڪل فليٽ جي خلاف رکيل آهي، فرينگز ظاهر ٿيندا آهن جن جي شڪل انسپيڪشن هيٺ آپٽڪ جي سطح جي برابري کي ترتيب ڏئي ٿي.جيڪڏهن ڪنارا هڪجهڙا فاصلو، سڌا ۽ متوازي آهن، ته پوءِ امتحان هيٺ نظرياتي سطح گهٽ ۾ گهٽ ريفرنس آپٽيڪل فليٽ جيتري فليٽ هوندي.جيڪڏهن ڪنارن کي وکرايو وڃي ٿو، ته ٻن تصوراتي لڪير جي وچ ۾ ڪنارن جو تعداد، هڪ ٽينجنٽ هڪ فرينگ جي مرڪز ڏانهن ۽ هڪ ان ساڳئي فرينج جي پڇاڙيءَ کان، سڌرڻ جي غلطي کي ظاهر ڪري ٿو.فليٽ ۾ انحراف اڪثر ڪري ماپي ويندي آهي موجن جي قدرن (λ) ۾، جيڪي ٽيسٽنگ ماخذ جي موج جي ڊيگهه جا گھڻا هوندا آهن.ھڪڙي ڪناري ھڪڙي موج جي ½ سان ملندڙ آھي، يعني، 1 λ 2 جھازن جي برابر.
| جدول 7: فليٽ لاءِ پيداواري رواداري | |
| چِٽي | معيار جي درجي |
| 1λ | عام |
| λ/4 | سڌائي |
| λ/10 | هاء سڌائي |
طاقت
پاور مٿاڇري جي درستگي جي وضاحت جو هڪ قسم آهي، وکر آپٽيڪل سطحن تي لاڳو ٿئي ٿو، يا طاقت سان سطحون.اهو هڪ آپٽڪ جي مٿاڇري تي وکر جي ماپ آهي ۽ وکر جي ريڊيس کان مختلف آهي انهي ۾ ته اهو هڪ لينس جي گول شڪل ۾ مائڪرو-اسڪيل انحراف تي لاڳو ٿئي ٿو.مثال طور، غور ڪريو وکر رواداري جي ريڊيس کي 100 +/-0.1mm جي طور تي بيان ڪيو ويو آهي، هڪ ڀيرو هي ريڊيس پيدا ڪيو ويندو آهي، پالش ڪيو ويندو آهي ۽ ماپ ڪيو ويندو آهي، اسان کي ان جي حقيقي وکر 99.95mm ملي ٿي جيڪا مخصوص ميڪيڪل رواداري جي اندر اچي ٿي.انهي صورت ۾، اسان ڄاڻون ٿا ته مرڪزي ڊگھائي پڻ صحيح آهي ڇو ته اسان صحيح گولائي شڪل حاصل ڪئي آهي.پر صرف ان ڪري جو ريڊيس ۽ فوڪل ڊگھائي صحيح آهي، ان جو مطلب اهو ناهي ته لينس ڊزائين ڪيل ڪم ڪندو.تنهن ڪري اهو ڪافي نه آهي ته صرف وکر جي ريڊيس کي بيان ڪرڻ پر ان سان گڏوگڏ وکر جي تسلسل - ۽ اهو ئي آهي جيڪو طاقت کي ڪنٽرول ڪرڻ لاءِ ٺهيل آهي.مٿي ذڪر ڪيل ساڳئي 99.95mm ريڊيس کي ٻيهر استعمال ڪندي، هڪ آپٽشيئن شايد 1 λ تائين طاقت کي محدود ڪري ريفريڪٽ ٿيل روشني جي درستگي کي وڌيڪ ڪنٽرول ڪرڻ چاهي ٿو.هن جو مطلب آهي ته سڄي قطر تي، گولي جي شڪل جي مطابقت ۾ 632.8nm (1λ = 632.8nm) کان وڌيڪ انحراف نه ٿي سگهي.ڪنٽرول جي هن وڌيڪ سخت سطح کي مٿاڇري جي شڪل ۾ شامل ڪرڻ انهي ڳالهه کي يقيني بڻائڻ ۾ مدد ڪري ٿي ته لينس جي هڪ پاسي تي روشني واريون شعاعون ٻئي پاسي کان مختلف طريقي سان نه ڦيرايون.جيئن ته مقصد ٿي سگهي ٿو ته سڀني واقعن جي روشنيءَ جو پن پوائنٽ فوڪس حاصل ڪرڻ، ان جي شڪل جيتري وڌيڪ هڪجهڙائي هوندي، اوتري ئي وڌيڪ صحيح روشنيءَ جو برتاءُ ٿيندو جڏهن لينس مان گذرندو.
چشمي جا ماهر موجن يا ڪنارن جي لحاظ کان طاقت جي غلطي کي بيان ڪن ٿا ۽ ان کي انٽرفيروميٽر استعمال ڪندي ماپ ڪن ٿا.ان جي جانچ ڪئي وئي آهي اهڙي انداز ۾ جيئن فليٽنيس، جنهن ۾ هڪ مڙيل مٿاڇري کي ريفرنس جي مٿاڇري سان ڀيٽيو وڃي ٿو، جنهن ۾ وکر جي انتهائي calibrated ريڊيس سان.ٻن سطحن جي وچ ۾ فضائي خال جي سبب مداخلت جي ساڳئي اصول کي استعمال ڪندي، مداخلت جي فرينگز جو نمونو استعمال ڪيو ويندو آهي امتحان جي سطح جي انحراف کي بيان ڪرڻ لاء ريفرنس سطح (شڪل 11).ريفرنس پيس مان هڪ انحراف انگن جو هڪ سلسلو ٺاهيندو، جيڪو نيوٽن جي انگن جي نالي سان مشهور آهي.جيترا وڌيڪ انگ موجود هوندا، اوترو وڏو انحراف.اونداهي يا هلڪي رنگن جو تعداد، روشنيءَ ۽ اونداهي ٻنهي جو مجموعو نه، غلطي جي لهرن جي ٻيڻي تعداد جي برابر آهي.
شڪل 11: طاقت جي غلطي جي جانچ ڪئي وئي ريفرنس سطح جي مقابلي ۾ يا انٽرفيروميٽر استعمال ڪندي
پاور جي غلطي هيٺ ڏنل مساوات جي ذريعي وکر جي ريڊيس ۾ غلطي سان لاڳاپيل آهي جتي ∆R ريڊيس جي غلطي آهي، D لينس قطر آهي، R سطحي ريڊيس آهي، ۽ λ موج جي ڊيگهه آهي (عام طور تي 632.8nm):
پاور ايرر [waves or λ] = ∆R D²/8R²λ
شڪل 12: مرڪز ۾ قطر بمقابله ريڊيس ايرر مٿان پاور ايرر
بي ترتيبي
بي ضابطگي نظريي جي مٿاڇري تي ننڍي پيماني جي مختلف تبديلين کي حساب ۾ رکي ٿي.طاقت وانگر، ان کي موجن يا ڪنارن جي لحاظ کان ماپيو ويندو آهي ۽ هڪ انٽرفيروميٽر استعمال ڪندي خاص ڪيو ويندو آهي.تصوراتي طور تي، بي ضابطگي جي باري ۾ سوچڻ تمام آسان آهي هڪ وضاحت جي طور تي جيڪو بيان ڪري ٿو ته هڪ نظرياتي سطح ڪيئن هڪجهڙائي سان هموار هجڻ گهرجي.جڏهن ته مجموعي طور ماپيل چوٽيون ۽ واديون هڪ نظري مٿاڇري تي تمام گهڻيون هڪجهڙائي رکندڙ هجن، نظري جو هڪ مختلف حصو شايد تمام گهڻو انحراف ڏيکاري سگهي ٿو.اهڙي صورت ۾، لينس ذريعي ڦهليل روشني مختلف طريقي سان ڪم ڪري سگهي ٿي ان تي منحصر آهي ته اها آپٽڪ طرفان ڪٿي ڦهليل آهي.تنهن ڪري لينس ڊزائين ڪرڻ وقت بي ترتيب هڪ اهم غور آهي.هيٺ ڏنل انگ اکر ڏيکاري ٿو ته ڪيئن هن مٿاڇري جي فارم جي انحراف کي مڪمل طور تي گولي واري هڪ بي ترتيب واري PV وضاحتن کي استعمال ڪندي بيان ڪري سگهجي ٿو.
شڪل 13: بي ترتيبي پي وي جي ماپ
بي ترتيبي هڪ قسم جي مٿاڇري جي درستگي جي وضاحت آهي جنهن کي بيان ڪيو ويو آهي ته ڪيئن هڪ مٿاڇري جي شڪل هڪ حوالن جي سطح جي شڪل کان جدا ٿي وڃي ٿي.اهو طاقت جي ساڳي ماپ مان حاصل ڪيو ويندو آهي.ريگيولرٽي مان مراد گول دائرن جي گول دائري ڏانهن آهي جيڪي ٽيسٽ جي مٿاڇري جي مقابلي کان ريفرنس مٿاڇري تائين ٺهيل آهن.جڏهن هڪ مٿاڇري جي طاقت 5 فرينجز کان وڌيڪ هوندي آهي، تڏهن 1 فرنگ کان گهٽ جي ننڍين بي ضابطگين کي ڳولڻ ڏکيو هوندو آهي.تنهن ڪري اهو عام رواج آهي ته سطحن کي طاقت جي تناسب سان تقريبن 5:1 جي بي ترتيب سان بيان ڪيو وڃي.
شڪل 14: فليٽنس بمقابله پاور بمقابله بي ترتيب
RMS آيتون PV پاور ۽ بي ترتيب
جڏهن طاقت ۽ بي ضابطگي تي بحث ڪيو وڃي، اهو ضروري آهي ته انهن ٻن طريقن کي سمجهڻ گهرجي جن جي ذريعي انهن جي وضاحت ڪري سگهجي ٿي.پهرين هڪ مطلق قدر آهي.مثال طور، جيڪڏهن هڪ نظري جي وضاحت ڪئي وئي آهي 1 لهرن جي بي ضابطگي سان، اتي نظريي جي مٿاڇري يا چوٽي کان وادي (PV) تي سڀ کان وڌيڪ ۽ هيٺين نقطي جي وچ ۾ 1 لہر کان وڌيڪ فرق نه ٿي سگهي.ٻيو طريقو اهو آهي ته طاقت يا بي ضابطگي کي 1 wave RMS (روٽ مطلب مربع) يا سراسري طور بيان ڪيو وڃي.هن تشريح ۾، هڪ نظري مٿاڇري جي وضاحت ڪئي وئي آهي 1 wave RMS irregular ٿي سگهي ٿي، حقيقت ۾، چوٽيون ۽ واديون آهن جيڪي 1 لهرن کان وڌيڪ آهن، جڏهن ته، مڪمل سطح کي جانچڻ دوران، مجموعي سراسري بي ترتيبي لازمي طور تي 1 لہر جي اندر ٿيڻ گهرجي.
مجموعي طور تي، RMS ۽ PV ٻئي طريقا آهن بيان ڪرڻ لاءِ ته ڪنهن شئي جي شڪل ڪيتري حد تائين ان جي ٺهيل وکر سان ملي ٿي، جنهن کي ”سطح جي شڪل“ ۽ ”مٿاڇري جي خرابي“ چيو وڃي ٿو.اهي ٻئي هڪ ئي ڊيٽا مان ڳڻيا ويا آهن، جهڙوڪ هڪ interferometer جي ماپ، پر مطلب بلڪل مختلف آهن.PV مٿاڇري لاءِ ”بدترين صورتحال واري صورتحال“ ڏيڻ ۾ سٺو آهي.آر ايم ايس هڪ طريقو آهي جنهن کي بيان ڪرڻ لاءِ سطح جي شڪل جي اوسط انحراف کي گهربل يا حوالن واري مٿاڇري کان.RMS مجموعي سطح جي تبديلي کي بيان ڪرڻ لاء سٺو آهي.PV ۽ RMS جي وچ ۾ ھڪڙو سادو تعلق نه آھي.جڏهن ته هڪ عام قاعدي جي طور تي، هڪ RMS قدر تقريباً 0.2 جيترو سخت آهي غير اوسط قدر جيترو سخت آهي جڏهن ته ٻئي طرف مقابلو ڪيو وڃي ٿو، يعني 0.1 wave irregular PV لڳ ڀڳ 0.5 wave RMS جي برابر آهي.
مٿاڇري ختم
مٿاڇري ختم، سطح جي خرابي جي طور تي پڻ سڃاتو وڃي ٿو، سطح تي ننڍي پيماني تي بي ترتيبين کي ماپ ڪري ٿو.اهي عام طور تي پالش ڪرڻ واري عمل ۽ مواد جي قسم جي بدقسمتي سان آهن.ايستائين جو نظري کي غير معمولي طور تي هموار سمجهيو وڃي ٿو تمام گهٽ بي ضابطگي سان، ويجهي چڪاس تي، هڪ حقيقي خوردبيني امتحان مٿاڇري جي بناوت ۾ وڏي تبديلي کي ظاهر ڪري سگهي ٿو.هن نموني جو هڪ سٺو قياس اهو آهي ته مٿاڇري جي خرابي کي سينڊ پيپر جي گرٽ سان موازنہ ڪرڻ.جڏهن ته بهترين گرٽ سائيز محسوس ڪري سگهي ٿي هموار ۽ رابطي ۾ باقاعده، سطح اصل ۾ خوردبيني چوٽي ۽ وادين مان ٺهيل آهي، جيڪو خود گرٽ جي جسماني سائيز سان طئي ڪيو ويو آهي.نظريات جي صورت ۾، "گرٽ" کي پولش جي معيار جي ڪري مٿاڇري جي بناوت ۾ خوردبيني غيرقانوني طور سمجهي سگهجي ٿو.خراب سطحون نرم سطحن کان وڌيڪ تيز پائڻ لڳن ٿيون ۽ ٿي سگھي ٿو ڪجھ ايپليڪيشنن لاءِ موزون نه ھجن، خاص طور تي جيڪي ليزر يا شديد گرميءَ سان، ممڪن نيوڪليشن سائيٽن جي ڪري جيڪي ننڍيون شگاف يا خرابين ۾ نمودار ٿي سگھن ٿيون.
طاقت ۽ بي ترتيبيءَ جي برعڪس، جيڪا ماپي ويندي آهي موجن يا لهرن جي جزن ۾، مٿاڇري جي خرابي، مٿاڇري جي بناوت تي ان جي انتهائي ويجهو ڌيان جي ڪري، ماپي ويندي آهي angstroms جي پيماني تي ۽ هميشه RMS جي لحاظ کان.مقابلي لاءِ، هڪ نانو ميٽر جي برابر ڪرڻ لاءِ ڏهه اينگسٽرومس ۽ هڪ لهر جي برابر ڪرڻ لاءِ 632.8 نانو ميٽر لڳن ٿا.
شڪل 15: مٿاڇري جي خرابي RMS ماپ
| ٽيبل 8: سطح ختم ڪرڻ لاءِ پيداواري رواداري | |
| سطح جي خرابي (RMS) | معيار جي درجي |
| 50Å | عام |
| 20Å | سڌائي |
| 5Å | هاء سڌائي |
منتقل ٿيل Wavefront غلطي
منتقل ٿيل موج فرنٽ ايرر (TWE) استعمال ڪيو ويندو آهي آپٽيڪل عناصر جي ڪارڪردگي کي قابليت ڏيڻ لاءِ جيئن روشني گذري ٿي.مٿاڇري جي شڪل جي ماپن جي برعڪس، منتقل ٿيل موج فرنٽ جي ماپن ۾ شامل آهن سامهون ۽ پوئين مٿاڇري کان غلطيون، پچر، ۽ مواد جي هڪجهڙائي.مجموعي ڪارڪردگي جو هي ميٽرڪ بهتر سمجھڻ جي آڇ ڪري ٿو هڪ آپٽڪ جي حقيقي دنيا جي ڪارڪردگي.
جڏهن ته ڪيترائي آپٽيڪل جزا انفرادي طور تي سطح جي شڪل يا TWE وضاحتن لاءِ آزمايا ويندا آهن، اهي جزا لازمي طور تي وڌيڪ پيچيده آپٽيڪل اسيمبلين ۾ ٺاهيا ويندا آهن انهن جي پنهنجي ڪارڪردگي جي گهرج سان.ڪجهه ايپليڪيشنن ۾ اهو قابل قبول آهي ته اجزاء جي ماپن تي ڀروسو ڪرڻ ۽ برداشت ڪرڻ جي آخري ڪارڪردگي جي اڳڪٿي ڪرڻ لاء، پر وڌيڪ گهربل ايپليڪيشنن لاء اهو ضروري آهي ته اسيمبليء کي ماپ جي طور تي ٺاهيو وڃي.
TWE ماپون استعمال ڪيون وينديون آهن تصديق ڪرڻ لاءِ ته هڪ آپٽيڪل سسٽم وضاحت سان ٺهيل آهي ۽ ڪم ڪندو جيئن توقع ڪئي وڃي.اضافي طور تي، TWE ماپون سسٽم کي فعال طور تي ترتيب ڏيڻ لاء استعمال ڪري سگھجن ٿيون، اسيمبلي جي وقت کي گھٽائڻ، جڏهن ته متوقع ڪارڪردگي کي يقيني بڻائي ٿي.
Paralight Optics جديد ترين CNC گرائنڊرز ۽ پولشرز کي شامل ڪري ٿو، ٻئي معياري گولائي شڪلين لاءِ، گڏوگڏ، اسفرڪ ۽ فري فارم جي شڪلين لاءِ.جديد ميٽرولوجي کي استعمال ڪرڻ جن ۾ Zygo interferometers, profilometers, TriOptics Opticentric, TriOptics OptiSpheric, وغيره شامل آهن ٻنهي جي اندر جي ميٽرولوجي ۽ فائنل انسپيڪشن لاءِ، انهي سان گڏ اسان جو سالن جو تجربو بصري فيبريڪيشن ۽ ڪوٽنگ ۾ اسان کي اجازت ڏئي ٿو ته اسان کي ڪجھ تمام پيچيدگين کي حل ڪرڻ جي اجازت ڏئي ٿي. گراهڪن کان گهربل آپٽيڪل وضاحتن کي پورا ڪرڻ لاءِ اعليٰ ڪارڪردگي واريون نظريون.
وڌيڪ تفصيلي تفصيل لاءِ، مھرباني ڪري ڏسو اسان جي ڪيٽلاگ آپٽڪس يا نمايان مصنوعات.
پوسٽ جو وقت: اپريل-26-2023